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EDAX是創新材料表徵系統的領先供應商，包括能量分散分光法 (EDS)、波長分散分光法(WDS)、電子背散射繞射分析 (EBSD) 和X射線螢光分析(XRF)。為各行各業、教育機構和研究機構設計、製造、硬體和軟體解決方案並提供相關的服務。
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最小限度的樣品製備步驟、不需要鍍層。
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快速、同步的多元素 X 光檢測功能，其偵測感度可對 ppm 到 ％ 等級的濃度進行分析。
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可以特別針對小樣本（例如顆粒、碎片和內含物）進行元素分析，或者對大面積樣本進行自動多點和成像分析。
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Orbis 可以在空氣或低真空條件下測量從 Na 到 Bk 的元素。
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具有 X 射線的穿透力和較大的光斑尺寸，Orbis 比掃描式電子顯微鏡更適用於具有較大特徵的樣品。
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先進的 X 光光學組件和高品質攝影機安裝在垂直於樣品的位置，使該儀器適用於更廣泛的樣品幾何形狀。
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使用形貌測量樣品時，可消除 X 光的陰影。在儀器的設計工作距離範圍內更容易執行定性分析。
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適合各種應用，包括刑事鑑定、工業品質控制和微量瑕疵檢測，以及材料、電子學和地質樣品分析。